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GFM 便攜式三維光學(xué)缺陷階差測量儀

簡要描述:GFM 便攜式三維光學(xué)缺陷階差測量儀,精確、快速、便攜。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2024-05-09
  • 訪  問  量:935

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域食品,化工,石油,能源,電子

GFM 便攜式三維光學(xué)缺陷階差測量儀,

精確、快速、便攜


應(yīng)用領(lǐng)域:

金屬,復(fù)合材料,織物等材質(zhì)表面的劃痕,裂紋,磨損,刮擦、凹坑、鑿擊、腐蝕等表面缺陷的現(xiàn)場檢測和分析;

鉚接,焊接,接縫等階差和凹凸量的三維檢測;三維面粗糙度測量分析;

劃窩孔,槽深,圓弧,倒角等幾何尺寸測量; 


測量原理:

德國GFM公司基于激光條紋相位投影技術(shù)和DSP高速圖像處理芯片研制的便攜式三維光學(xué)表面劃痕測量儀,用于現(xiàn)場表面質(zhì)量特性的檢測,具有測量速度快,測量準(zhǔn)確,便攜性等優(yōu)點。       




儀器特點:

便攜式現(xiàn)場檢測大型零件表面劃痕缺陷,階差等表面幾何特性參數(shù);

三維測量表面劃痕缺陷,通過拓?fù)渖顖D直觀檢測出劃痕缺陷最深的部位;

專業(yè)的劃痕測量分析軟件,多種濾波方式:包含了多項式濾波,高斯濾波,均值濾波等,有效消除曲面輪廓,傾斜,噪音信號,毛刺,灰塵等因素對測量結(jié)果的影響;

大傾角光路設(shè)計,以及藍(lán)光LED光源,測量不受高反光曲面的影響;

SDK軟件包,開放儀器接口,可二次開發(fā);



儀器附件 

技術(shù)參數(shù):

測量范圍X/Y/Z

 13X8X5 mm

測量示值誤差:

 (2+L/1000)μm; L單位μm

深度方向分辨力:

 1um

聚焦距離:

 107mm

測量掃描時間:

 3秒;掃描點云:36萬點/

使用環(huán)境溫度:

 5-40°C

符合國標(biāo)校準(zhǔn)規(guī)范的計量校準(zhǔn)溯源


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